Tihomir Knežević rođen je 21. svibnja 1985. u Slavonskom Brodu. Diplomirao je u srpnju 2009. godine na studiju elektrotehnike, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Sveučilište u Zagrebu. Nagrađen je fakultetskim priznanjem, brončanom plaketom „Josip Lončar“ za ukupan uspjeh na dodiplomskom studiju kao najbolji student smjera. Od prosinca 2009. godine zaposlen je kao zavodski suradnik, a od veljače 2011. kao asistent na Zavodu za elektroniku, mikroelektroniku, računalne i inteligentne sustave, Fakultet elektrotehnike i računarstva. Kao zavodski suradnik radio je na projektima „Electrical 1/f characterization of JFET's for use in low-noise pre-amplifiers for radiation detectors“ (ID:20290), „Layout design of test structures for integrated detectors“ (ID:20289), „Simulation software for characterization of carrier transport in integrated semi-metallic thin films“ (ID:20288) u suradnji s Delft University of Technology, Nizozemska pod vodstvom izv. prof. dr. sc. Tomislava Suligoja. Kao asistent radio je na projektu „Nanometarski elektronički elementi i sklopovske primjene“ sponzoriranim od strane Ministarstva znanost obrazovanja i sporta pod vodstvom izv. prof. dr. sc. Tomislava Suligoja. U srpnju 2010. godine uspješno je završio Microsystems Design Training Course organiziran pod vodstvom Eurotraining-MST održanim na Sveučilištu u Ljubljani, Slovenija.

Bavi se istraživačkim aktivnostima koje pokrivaju modeliranje i simuliranje naprednih poluvodičkih struktura, simulacije različitih efekata u poluvodičkim elementima za detekciju ultraljubičastog zračenja i nisko-energetskih elektrona pomoću 2D i 3D numeričkih simulatora i modeliranje i mjerenje fizikalnih karakteristika slojeva amorfnog bora. Svojim radom unaprijedio je karakteristike različitih foto-detektorskih struktura s mogućnošću primjene u poluvodičkoj industriji. Trenutno radi na objašnjenju i modeliranju transporta nosilaca u slojevima s amorfnim borom.

Autor i koautor je jednog članka s međunarodnom recenzijom, šest članaka objavljenih na međunarodnim konferencijama i dvije ekspertize za Asahi Kasei Microdevices Co. Ltd., Japan i Delft University of Technology, Nizozemska. Dobitnik je tri nagrade za najbolji članak na međunarodnim konferencijama: IEDM International Electron Devices Meeting u 2010. godini, I2MTC International Instrumentation and Measurement Technology Conference u 2011. godini i MIPRO Microelectronics, Electronics and Electronic Technologies Conference u 2012. godini.

Član je IEEE Electron Devices Society (IEEE EDS).

Popis radova

Hrvatska znanstvena bibliografija

IEEE Xplore